关于材料学院辐射成像系统及半导体分析系统设备开放收费标准的公示

根据《福建理工大学大型科学仪器设备共享实施办法（试行）》等文件要求，现对材料科学与工程学院辐射成像系统及半导体分析系统等两台设备的共享服务收费标准予以公示，公示期为2025年 11 月 17 日至 2025 年 11月 21 日。

任何单位或个人可在公示期内以信函或传真方式对公示内容提出书面异议。异议材料须注明真实姓名和联系方式，其真实性由提出异议的单位与个人负责。对匿名或无具体事实根据的异议，不予受理。

联系方式：纪委办（22863310）

实设处（62185137）

许老师（15880880891）

附件:福建理工大学贵重科学仪器设备开放共享平台收费项目及价格公示表

材料科学与工程学院（盖章）

2025年11月12日

福建理工大学贵重科学仪器设备开放共享平台收费项目及价格公示表

单位名称：材料科学与工程学院

贵重科学仪器设备开放简介

一、设备说明
设备名称：辐射成像系统
型号：FLS-XrayVP
规格：FLS-XrayVP

工作原理：利用点辐射源发散后，入射到闪烁体面上，闪烁体产生面发光，经过相机成像，可以间接拍到闪烁体面发光成像。

二、性能指标(关键参数)

（1）光路耦合方式：透镜-光纤耦合；含样品反射式、透射式两种收光光路；

（2）光源：高能光源

①可产生4-50 KV高能极紫外输出，功率0-50W连续可调；

（3）辐射剂量单元, Ø30x15 mm；能量范围：15 KeV-10 MeV；燃尽寿命≥100 Sv；

（4）测试模式：连续；连续长期辐射剂量率范围：50 nSv/h-10 Sv/h；

（5）成像单元：

①成像面积：直径20 mm；

②90度成像耦合光路附件，样品测试夹具。

三、主要应用

材料科学：通过光谱“指纹”识别和开发新型闪烁体、荧光粉、光学材料，用于筛选和评估新型闪烁体晶体（如LYSO、BGO、Ce:YAG等）, 揭示材料内部的缺陷、分辨率及探测限等关键指标；

基础物理研究：研究材料中激发态载流子的能量转移、俘获与复合动力学，分析晶体中的缺陷态及其对发光效率的影响；

医学诊断与治疗：通过辐射成像检测，可以看穿物体内部结构，实现无损检测，比如芯片等；

教学实验：作为高校和研究机构的教学实验设备，用于培养学生的实验技能和科研能力。

四、设备操作规程及使用、维护办法

（略）

五、设备机组人员信息

贵重科学仪器设备开放简介

一、设备说明
设备名称：半导体分析系统
型号：FS-Pro等
规格：FS-Pro等

工作原理：半导体分析系统包含半导体参数分析仪、高精度源测量单元SMU、显微镜及真空组件、低温探针台；利用半导体器件参数测量仪和高精度源测量单元SMU的高精密电压和电流源高精密的电压和电流表对微小信号的半导体器件和材料进行电学性能分析评估。显微镜及真空系统、低温探针台测试系统为微米级别半导体材料和器件提供了一个超宽动态范围的变温环境。

二、性能指标(关键参数)

1.测量精度最高到30fA；

2.最大直流电流不低于1A；

3.SMU的最大电压源不低于200V；

4.可进行快速 IV-T 采样，采样率可达1.8M，存储量可达10万个点；

5.脉冲模式下的最短脉冲宽度为50μs；

6.一体化机箱（内置液晶显示器）包含控制 PC；

7.在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、以及低频噪声测试能力，可以完成几乎所有半导体器件的低频特性表征；

8.单机箱最多支持4通道SMU扩展；

9.单筒连续变倍显微镜，连续变倍比：6.3:1，放大倍率范围：0.75–4.5X，工作距离：90-200mm，升降调节范围：275mm，Sony传感器，≥1200 万像素，分辨率 2.8*2.8um；HDMI 高清接口，图片分辨率≥1920x1080，光学分辨率：优于2µm。照明灯采用环形光包含有显示器；

10.100L自增压液氮杜瓦罐，高效传输管道，用于传输液氮。全不锈钢制造，容器强度高；双安全阀结构，确保产品使用安全；

11.温控系统，采用电阻丝加热和液氮降温交替方式；PID 温度控制器分辨率：0.1℃；

12.温度范围优于：80～470K（液氮）；

13.制冷形式：液氮降温；

14.直流臂加装直流探针后，系统漏电流＜100fA； 直流臂：四个，可实现DC-30MHz电学测试。

三、主要应用

材料科学：可为发光材料、半导体材料、二维材料器件，新能源材料、金属材料、LED研究等方面提供电学测试支持。

教学实验：作为高校和研究机构的教学实验设备，用于培养学生的实验技能和科研能力。

四、设备操作规程及使用、维护办法

（略）

五、设备机组人员信息