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仪器设备

贵重仪器设备汇总表

2020-06-17浏览次数:1503

序号

仪器名称

仪器型号

制造厂商

仪器功能

技术参数

1

X射线衍射仪

D8ADVANCE

德国布鲁克

适用于粉末、单晶、多晶或微晶固体的晶体结构、物相组成的定性和定量分析

光管类型:Cu靶;光管焦斑:0.4mm*14mm 扫描方式:θ/θ测角仪,测角仪垂直放置;2θ转动范围:-110°-168°;可读最小步长:0.0001°;角度重现性:±0.0001°;最高定位速度:1500°/min;动态范围:2000000cps以上

2

傅里叶红外光谱仪

Nicolet 6700

美国Thermo

用于检测有机官能团及结构特征, 定性和定量分析有机化合物结构

波长范围:4000-400cm-1;稳定性:具有三维激光控制自动调整和每秒130000次扫描控制高速动态准直调整功能,位置精度达+0.2nm;准确性:指纹区全光谱线性度准确性指标优于0.07%T;灵敏度:在ASTM优于0.07%T的条件下,峰-峰噪音值小于8.68×10-6Abs,,信噪比优于500001;精度:优于0.09cm-1

3

TG-DSC同步热分析仪

STA449F3

德国耐驰

用于研究物质的晶型转变、融化、升华、吸附等物理现象及脱水、分解、氧化、还原等化学反应,提供物质的热稳定性、热分解产物、热变化过程的焓变、各种类型的相变点、软化点等

温度范围:室温-1400℃;测量范围:10克;天平分辨率:0.1ug;升温速度:≤50/min;灵敏度:1uWDSC基线飘移:<±5 uW;温度准确度:<±0.1

4

连续变倍体视显微镜

JSZ6

长春江南永新

能产生正立的三维空间像,立体感强,成像清晰和宽阔,具有较长的工作距离,对同一物体可实现连续放大倍率观看,可直接在计算机上观察实物图像

变倍物镜:0.8× ~ 5×;工作距离:115mm;视度可调目镜:大视场平场目镜EW10×

5

全谱直读光谱仪

FOUNDR-MASTER

牛津

适用于铁基、铝基、铜基、镁基、锌基金属材料成分测试

1. 光学系统:帕邢-龙格结构,焦距350mm,波长范围160-800nm,光栅刻线数3000条/mm,高速数字读出CCD检测器,象素分辨率6pm,高稳定分光系统。
2. 光源:固态火花光源,固态振荡器。
3. 高能预燃(HEPS)技术:计算机控制光源参数,频率:100-400HZ,电压:300-500V。
4. 真空系统:低噪音真空泵,外部更换的入射窗口。
5. 氩气冲洗火花台

6

数码摄像金相显微镜

XJZ-6A

南京江南永新

中型金相显微镜,可做明视场、暗视场和偏光金相组织观察、摄像、图像分析

仪器放大倍数:32X~1600X;目镜放大倍数:8X10X12.5X16X;物镜放大倍数:4X10X25X40X100X

7

扫描电子显微镜

S-3400N

日本株式会社日立高新技术 那珂事业所

主要用于材料表面形貌的分析和成分分析(该设备配套布鲁克公司QUANTAX能谱仪),可以观察有机材料、无机材料、生物材料等材料的表面形貌和断口形貌并可对相应区域进行成分分析

SE分辨率:3.0nm(30kv) 高真空模式;10nm(3kv)高真空模式;. BSE分辨率:4.0nm(30kv),低真空模式; 放大倍率:x5~x300,000. 加速电压:0.3~30kv;低真空范围:6~270Pa;最大样品尺寸:直径200mm;最大样品高度:35mm(WD=10mm);灯丝:预对中钨灯丝;物镜光栏:可移动式4孔物镜光栏;.检测器:二次电子检测器;高灵敏度半导体背散射电子检测器

8

场发射扫描电镜(配备EDSEBSD

NovaNanoSEM450   
OXFORD X-MaxN EDS        OXFORD NordlysMax2 EBSD

美国FEI

可进行材料微观形貌组织观察,实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体、晶粒的相鉴定,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。

分辨率:1.0nm@15kV,1.4nm@1kV;放大倍数:100~600,000倍;加速电压: 100V~30kV;能量分辨率:MnKα优于127eV;元素分析范围:Be4~Pu94

9

透射电子显微镜

JEM-2100

日本电子株式会社

主要应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。配备超高分辨极靴(UHR),可实现超高分辨率图像的观察,结合能谱仪(EDS)等附件,还可以实现高空间分辨率(纳米尺度)的结构及成分分析

线分辨率: 0.14nm;点分辨率: 0.19nm 放大倍数: MAG模式:×501,500,000SA MAG模式:×8,000800,000 加速电压: 80kV200kV;相机长度:选区衍射:80~2,000mm;高色散衍射:4000~80,000mm;元素分析范围:Be~U

10

FARO ARM 三坐标测量机

FARO Laser ScanArm 三维激光扫描测量臂

美国法如科技

该设备是一款独特的测量设备,它轻巧便携,移动方便,可以用测量臂的硬测头来精确采集点,再用激光扫描头获取所需的大量点云数据。设备也可与逆向工程软件如Geomagic, Polyworks, Rapidform和其他第三方软件包一起使用。Laser ScanArm适用于检测、逆向工程、快速成形、3D建模。能自动生成测量报告,也可随时查看当前的测量报告,并可以出EXCEL格式报表。常应用于下列领域,航空:校准、加工和模型检验、部件检验;汽车:工具制造和检验、校正、部件检验;金属预制件:OMI、首件检验、定期部件检验;制模/工具和模具:模型和模具检验、原型部件扫描

测量范围:轴1.8米,利用蛙跳功能可实现更大范围的测量; 定位精度:±0.018mm;单点清晰度性能测试:单点精度±0.025mm,立体精度±0.036mm;非接触式系统精度: ±0.081mm

11

粗糙度轮廓仪

CL-1A

上海泰勒精密仪器制造有限公司

粗糙度轮廓仪是专门用来检测零件表面粗糙度、表面轮廓的机电一体化精密计量仪器。可对多种零件表面的粗糙度进行测量,包括平面、斜面、外圆柱面,内孔表面,深槽表面及轴承滚道等,实现了零件表面粗糙度及零件表面轮廓形状的多功能精密测量

粗糙度测量,评定参数: RaRyRzSSmTpRq、Δq、λa、λqSKK. 测量范围: Ra 00110µm 触针位移: ±500µm;分辨率: 655361;示值误差:±3%;轮廓测量;使用范围:X 0-100mm;  Z 0.43mm 测量范围:X 0-100mm;  Z ±10mm;分辨率:655361;半径误差:0.11%

12

光学影像测量仪

PRESIZE 760C

江苏昆山万像光电有限公司

光学影像测量仪是集光学、机械、电子、计算机图像处理技术于一体的高精度、高效率、高可靠性的测量仪器。由光学放大系统对被测物体进行放大,经过CCD摄像系统采集影像特征并送入计算机后,可高效地检测各种复杂精密零部件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置,进行微观检测与质量控制。广泛应用于印刷线路板、精密冲压件、精密模具、精密塑胶零件、汽車配件、刀模、精密五金、手机配件、精密网版等零部件的微观检测与质量控制

测量行程: X 620mm  Y 720mm  Z 200mm 平台承重: 100KG 精度: XY轴定位精度3µm,全行程精度(3+L/200µmZ轴定位精度5µm,全行程精度(5+L/100µm

13

比表面分析仪

3Flex

美国麦克

用于测量从微孔到介孔全范围的孔径分析,可实现三站同时微孔介孔分析,并可测量相对压力低至10-9的等温吸附线。

 

14

差示扫描量热仪

DSC200F3

德国耐驰

研究材料的熔融与结晶过程、玻璃化转变、相转变、液晶转变、固化、氧化稳定性、反应温度与反应热焓,测定物质的比热、纯度,研究混合物各组分的相容性,计算结晶度,反应动力学参数等

测试温度范围:-170~600

15

动态热机械分析仪

DMA242E

德国耐驰

测量材料的形变幅度与滞后,以此计算与获取储能模量、损耗模量、损耗因子等相关特征曲线,表征材料的粘弹性能随温度/频率的变化,以及相关的特征温度点。

最大力范围24N

16

纳米压痕仪

TI premier

德国布鲁克

可用于薄膜、陶瓷、复合物、聚合物、微机电系统和金属的微纳米尺度硬度与杨氏模量测试和样品表面具有原子级的分辨率的形貌信息

纳米压痕参数:最大载荷力10mN; 载荷分辨率<1nN; 最大位移>5um
纳米划痕参数:最大横向载荷力2mN; 横向位移分辨率<0.02nm 

17

Z-Scan非线性测量仪

Z-Scan

Z-Scan

用于材料的非线性光学性能测试。

 

18

原子力显微镜

Dimension Icon

德国Bruker公司

用于获取样品的高分辨图像,可实现机械性能、电学和化学性能测试

X-Y方向扫描范围:90um *90um典型值,最小85um
Z方向扫描范围:10um典型值,在成像及力曲线模式下;最小9.5um
垂直方向噪音基底:<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽(达到625Hz
X-Y定位噪音(闭环):<0.15nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz
X-Y定位噪音(闭环):<0.10nm RMS,典型成像带宽(达到625Hz
Z传感器噪音水平(闭环):<35pm RMS, 典型成像带宽(达到625Hz
整体线性误差(X-Y-Z):0.5% 典型值

19

动态接触角测量仪

DSA25

德国克吕士

用于测量材料表面接触角,表面能,液体张力

图像放大率: 6.5倍;固定样品台大小: 
 105×105 mm;接触角测量范围: 
 0-180°

20

激光导热仪

LFA467

德国Netzsch

用于测量材料导热

温度范围:-100°C ... 500°C;热扩散系数测量范围:0.01 mm2/s ... 1000 mm2/s;导热系数测量范围:< 0.1 W/(mK) ... 2000 W/(mK)

21

热台偏光显微镜

DM2700P

德国徕卡

用于观察材料结晶过程,软件设有拍摄与截图功能

 

22

激光粒度仪

Mastersizer 3000

马尔文

用于检测粉体材料的粒度

检测范围0.01-3500μm

23

荧光光谱仪

FLS980

英国爱丁堡

检测物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光寿命

 

24

电化学工作站

AT302N

瑞士AUTOLAB

可提供绝大多数电化学测量方法,如循环伏安法,常规脉冲伏安法, 差分脉冲伏安法,方波伏安法,计时安培/库仑/电位法,阶跃和扫描,电位溶出分析,交流伏安法,脉冲安培检测, 线性扫描伏安

扫描电位范围:±10V,可扩展至±30V; 最大输出电压:±30V; 最大输出电流:±2A

25

高温真空摩擦磨损试验机

GHT-1000E

兰州中科凯华科技开发有限公司

本机主要是用于研究在高温真空条件下被测材料的摩擦磨损性能

高温炉加热温度:    <1000℃     
试验载荷范围:      150~2000g   
摩擦半径:      <20mm
摩擦对偶球(栓)尺寸: Φ4~Φ6mm、栓长度:10~15mm
样品尺寸: 直径:Φ10~Φ60mm    

26

高温真空硬度计

HVT-100

兰州中科凯华科技开发有限公司

本机主要是用于测定耐热金属、陶瓷、硬质合金等材料在高温真空环境下的面硬度

试验载荷范围: 1~30Kg  
加热温度范围: 室温~1000℃
压痕次数:     1~36
压头规格:    高温维氏压头、锥角1360     
样品尺寸可调: Φ5~Φ58 mm、厚度: 2~12mm

27

探针式材料表面磨痕测量仪

MT-50

兰州中科凯华科技开发有限公司

本机主要用于测量材料表面摩擦磨损后形成的磨痕形貌,测量磨痕宽度、磨痕深度并计算出磨损量,直观的表征材料表面的磨损状况和耐磨性能

测量宽度:       0.02~5mm
X轴移动范围:    0~50mm
Y轴移动范围:    0~25mm
Z轴移动范围:    0~50mm
样品盘尺寸:     Φ76mm

28

电化学往复摩擦磨损试验机

MSR-2

兰州中科凯华科技开发有限公司

本机主要是用于研究金属材料在电化学腐蚀介质中产生腐蚀磨损及其交互作用机理。可检测摩擦系数、介质温度和电化学等参量,并进行图形显示和数据存储。

储液池尺寸:120mm×90mm×50mm、最大容量 300ml         
摩擦力测量范围:  0~100N

29

电子万能试验机

INSTRON2382

美国INSTRON

本机主要适用于对金属、非金属及产品的拉伸、压缩、弯曲等力学性能的测试,可实现应力、应变、速度等组合命令控制。

分别配备100kN和5kN的传感器、高温引伸计(最高温度1200°C)和低温引伸计(温度范围:-100°C~200°C)、高温炉(炉温度范围:300°C~1200°C)、高低温箱(温度范围-150°C~350°C)

30

电子高温蠕变持久试验机

CTM105

深圳三思纵横科技股份有限公司

主要用于各种金属及合金材料在一定温度和恒定的拉伸试验力的作用下,测量材料的蠕变性能和持久性能。

l最大试验力:100KN;试验力测量范围:1%-100%;使用温度:200-1200℃;加热炉形式:筒式高温炉;加热方式:三段电炉丝加热,分段控制;蠕变误差:≤总蠕变伸长量的±1%;测量范围:0-25mm;分辨率:0.001mm;准确度等级:0.5级

31

高功率高脉冲硬质薄膜沉积系统

TRP-450

中国科学院沈阳科学仪器股份有限公司

用于开发纳米级的单层及多层功能膜和复合膜—可镀金属、合金、化合物、半导体、陶瓷膜、介质复合膜和其他化学反应膜等以及纳米材料的光电性能测试。

溅射真空室参数:样品尺寸:≤4英寸;转速:0-30r/min,转速连续可调;加热温度:室温-600℃,温度可调可控,基片配有气动挡板;测试系统参数:样品升降机构快速移动距离:0-30mm;微调移动距离:0-10mm;调节精度:10微米;样品盘直径:87mm;样品最高加热温度:800℃,可控可调,控温精度:±1℃。

32

放电等离子烧结炉

SPS-5T-5-III

上海晨华

各种样品高温烧结

最高温度∶2300℃,最大压力∶5T,冷态极限真空度∶6.67×10-3Pa

33

冷冻超薄切片机

EM UC7FC7

徕卡

提供半薄, 超薄切片和冷冻切片的样品,以及进行样品表面光滑处理,为透射电镜,扫描电镜,原子力显微镜和光镜检验生物样品,高分子材料以及工业样品做准备。

 (1)切片速度:0.05~100mm/sec   (2)超薄切片厚度:1nm ~ 15um   
(3)冷冻装置温度:-15℃~ -185℃   
(4)有电离子抗静电器220V, 50/60Hz

34

精密电势测试系统

CTA-3S

北京柯锐欧科技有限公司

可同时或独立测量块体材料或薄膜材料的电阻率以及塞贝克系数

温度范围:室温~1000℃
测量范围:电势:0.5μV/K-25V/K 电阻率:0.1μOhmm-2.5Ohmm
测量方法:电势:静态直流电 电阻:四线法
控温精度:±0.5 K
测量精度:电势:±7%; 电阻率:±5 %
气氛:氦气
样品尺寸:圆柱体或正方形:2 to 4 mm ;长度:6 to 22mm;薄厚≥50nm 圆片样品:Ø 10-12.7-25.4mm

35

共聚集显微拉曼光谱仪

DXR2xi

美国Thermo

液体、粉末及各种固体样品的拉曼光谱的测定。

单晶硅一阶峰的信噪比优于150:1,单晶硅三阶峰的信噪比优于20:1,可观察到四阶峰,光谱分辨率:<2cm-1,光谱重复性:优于±0.1cm-1,785nm近红外高亮度激光激发组件、532nm激光激发组件、532nm激发的扩展拉曼光谱范围光栅、633nm激光激发组件、455nm激光激发组件